Dokumenty APQP

Z procesami wdrożenia projektów wiąże się konieczność tworzenia i nadzoru nad coraz bardziej rozbudowaną dokumentacją procesową. Tworzenie dokumentacji za pomocą narzędzi takich jak arkusze kalkulacyjne czy edytory tekstu jest czasochłonne. Dodatkowo powstaje ryzyko niezgodności pomiędzy poszczególnymi dokumentami.

Wprowadzanie zmian narzuca konieczność ręcznej aktualizacji wszystkich dokumentów powiązanych. Odrębnym problemami stają się: kwestia dostępu do aktualnej dokumentacji oraz komunikacja pomiędzy uczestnikami procesu.

Platforma Tekatec dostarcza narzędzia wspomagające w dwóch obszarach:

• Pozwala na szybkie i wygodne tworzenie wszystkich dokumentów procesowych. 
• Wspiera zarządzanie i nadzór nad dokumentacją w pełnym zakresie, obejmującym zatwierdzanie, obieg oraz wprowadzanie zmian.

Tym co ją wyróżnia jest kompleksowe podejście do całości dokumentacji procesowej, nieograniczone wyłącznie do triady APQP (Flowchart/FMEA/Plan kontroli)

Przykładowe obsługiwane przez system dokumenty

• Flowcharty
• Analizy DFMEA/PFMEA/GFMEA (zgodne z AIAG 4, VDA 4 i AIAG/VDA 1)
• DVP (Design Verification Plan & Report)
• Matryce charakterystyk
• Specyfikacje wymagań
• Plany kontroli
• Instrukcje stanowiskowe/technologiczne
• Instrukcje kontroli
• Instrukcje ustawcze
• Listy przyrządów pomiarowych
• Karty pakowania i paletyzacji …

Kompletny opis procesu produkcyjnego

• Obsługa wszystkich etapów projektu (Prototyp, Preseria, Produkcja seryjna…)
• Elektroniczny nadzór nad opracowywaniem/sprawdzaniem i zatwierdzaniem dokumentów
• Wsparcie zarządzania pracą zespołu powiadamianie, o zadaniach i monitorowanie postępów prac 
• Opis operacji (stanowiska, opis zabiegów, narzędzia i pomoce warsztatowe, załączone dokumenty: modele 3D, rysunki, zdjęcia…)

• Charakterystyki pomiarowe (wymiary: liniowe i kątowe, tolerancje kształtu i położenia, wymagania opisowe, skład chemiczny…)
• Parametry kontroli (wielkość i częstotliwość próbki, metoda kontroli , plan reakcji…)
• Analizy DFMEA/PFMEA/GFMEA ( wady: typy, skutki, przyczyny, klasy, AP …)
• i wiele innych parametrów…